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Park帕克原子力顯微鏡
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當前位置： Park原子力 應用文獻 磁力顯微鏡測量中的靜電偽影

磁力顯微鏡測量中的靜電偽影

2022-12-30
  • 電子/電器/半導體
  • 材料
  • 表面形貌
  • 無
摘要

在過去的幾十年中，原子力顯微鏡（AFM）已經深入參與了納米尺度的研究和開發。雖然已被廣泛使用，但對AFM數據的理解有時還是很麻煩，特別是對于新的AFM用戶。原子力顯微鏡對各種力和效應的非凡敏感性使其不僅是一種多功能的研究工具，而且會容易于產生不同的偽影源。這些偽影可能來自于不正確的系統和實驗設置，或者復雜的材料特性。

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