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安捷倫科技（中國）有限公司
本技術說明介紹了新研究型原子力顯微鏡（AFM）Park FX40。以前，由于復雜的操 作和繁瑣的處理使得原子力顯微鏡難以被廣泛接受。而 FX40 通過引入智能掃描算法、全 自動探針操控、全自動系統校準檢測和近針操作，以及多樣品卡盤，能夠幫助用戶克服這 些障礙。FX40 以 XE 和 NX 系列 AFM 的串擾消除設計為基礎，進一步提升了性能，提高了 生產效率，讓每個人都可以使用。使用 FX40，只需點擊幾下，即可獲得高清且有意義的 數據。額外的內置環境傳感器開辟了新的應用空間，將在以后的出版物中進行介紹和討論。 本技術說明將會描述整個的成像過程，并用實際應用示例進行了說明。
