靈活智能的研究級(jí)AFM，實(shí)惠來襲！

Park NX7 配有Park原子力顯微鏡前沿技術(shù)，其設(shè)計(jì)與新型顯微鏡一樣彰顯細(xì)節(jié)品質(zhì)，可以有效助您取得精準(zhǔn)的研究成果。現(xiàn)在價(jià)格實(shí)惠，是您預(yù)算合理下的理想選擇。

通過消除掃描器串?dāng)_進(jìn)行準(zhǔn)確的XY掃描

• 獨(dú)立閉環(huán)XY和Z柔性掃描器

• 正交XY掃描

• 樣品表面形貌信息測(cè)量精準(zhǔn)，無需軟件處理

全面專業(yè)的原子力顯微鏡解決方案

• 涵蓋多種掃描探針顯微鏡的掃描模式

• 更智能的NX電子控制器默認(rèn)啟用高級(jí)納米機(jī)械測(cè)量模式

• 擁有業(yè)界前沿的兼容性和可升級(jí)性

人性化設(shè)計(jì)的軟件和硬件功能

• 方便樣品或換針的開放式使用

• 預(yù)對(duì)準(zhǔn)的探針夾設(shè)計(jì)，可輕易直觀的進(jìn)行SLD光校準(zhǔn)

• Park SmartScanTM - 原子力顯微鏡操作軟件可以幫助初次使用用戶和專業(yè)用戶進(jìn)行專業(yè)的納米級(jí)研究。

無掃描器弓形彎曲的平直正交XY軸掃描

Park的串?dāng)_消除技術(shù)不僅改善了掃描器弓形彎曲的缺點(diǎn)，還能夠在不同掃描位置，掃描速率和掃描尺寸條件下進(jìn)行平直正交XY軸掃描。即使再平坦的樣品也不會(huì)出現(xiàn)如光學(xué)平面,各種偏移掃描等背景曲率。因此Park能不懼艱難挑戰(zhàn)，為您在研究中提供高精度的納米測(cè)量。

無耦合關(guān)系的XY和Z掃描器

Park的核心技術(shù)在于專有的掃描器架構(gòu)。基于獨(dú)立XY掃描器和Z掃描器設(shè)計(jì)的撓曲結(jié)構(gòu)，能讓您輕松獲得高精度納米級(jí)分辨率數(shù)據(jù)。

行業(yè)引領(lǐng)的低噪聲Z探測(cè)器

Park AFM 配備了低噪聲Z探測(cè)器，噪音水平低于0.02 nm,因而達(dá)到了樣品形貌成像精準(zhǔn)，沒有邊沿過沖無需校準(zhǔn)的高效率。Park NX系列不僅為您提供高精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，更為您大大節(jié)省了時(shí)間成本。

由低噪聲Z探測(cè)器測(cè)量準(zhǔn)確的樣品形貌

• 利用低噪聲Z探測(cè)器信號(hào)進(jìn)行形貌成像

• 有高寬帶，Z探測(cè)器低噪聲只有0.02 nm

• 邊緣位置無前沿或后沿過沖現(xiàn)象

• 只需在原廠校準(zhǔn)一次

樣品: 1.2 μm標(biāo)準(zhǔn)臺(tái)階高度
(9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines)

True Non-Contact?模式可延長(zhǎng)探針壽命、保護(hù)樣品和精準(zhǔn)測(cè)量

True Non-Contact? 模式是Park原子力顯微鏡系統(tǒng)創(chuàng)新的掃描模式，通過在掃描過程中防止針尖和樣品損壞，從而產(chǎn)生高分辨率和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

接觸模式下，針尖在掃描過程中持續(xù)接觸樣品；輕敲模式下，針尖周期性地接觸樣品；而在非接觸模式下針尖不會(huì)接觸樣品。因此，使用非接觸模式具有幾大關(guān)鍵優(yōu)勢(shì)。由于針尖銳度得以保持，在整個(gè)成像過程中會(huì)以高分辨率進(jìn)行掃描。非接觸模式下由于針尖和樣品表面不會(huì)直接接觸，從而避免損壞軟樣品。

更快速的Z軸伺服使得真正的非接觸式原子力顯微鏡有更精準(zhǔn)的反饋

• 減少針尖磨損 → 長(zhǎng)時(shí)間高分辨率掃描

• 無損式探針-樣品接觸 → 較大地減少樣品受損度

• 可滿足各種條件下，對(duì)各種樣品都能夠進(jìn)行非接觸式掃描

此外，非接觸模式可以感知探針與樣品原子之間的作用力，甚至可以檢測(cè)到探針接近樣品時(shí)產(chǎn)生的橫向力。因此，在非接觸模式下使用的探針可以有效避免撞到樣品表面時(shí)突然出現(xiàn)的高層結(jié)構(gòu)。而接觸模式和輕敲模式只能進(jìn)行探針底端檢測(cè)，很容易受到這種撞擊傷害。

Park NX7 參數(shù)

Scanner

Z掃描器

柔性引導(dǎo)高推動(dòng)力掃描器
Z掃描范圍: 15 μm (30 μm可選)

XY掃描器

閉環(huán)控制式單模塊柔性XY掃描器
掃描范圍: 50 μm × 50 μm
(可選 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)

位移臺(tái)

Z位移臺(tái)

Z位移臺(tái)行程范圍: 26 mm

XY位移臺(tái)

XY位移臺(tái)行程范圍: 13 mm X 13 mm

樣品架

樣品大小 : up to 50 mm
樣品厚度: up to 20 mm

軟件

SmartScanTM

AFM系統(tǒng)控制和數(shù)據(jù)采集軟件
智能模式的快速設(shè)置和簡(jiǎn)易成像
手動(dòng)模式的高級(jí)使用和更精密的掃描控制

SmartAnalysisTM

AFM數(shù)據(jù)分析軟件
獨(dú)立設(shè)計(jì)—可以安裝和分析AFM以外的數(shù)據(jù)
能夠生成采集數(shù)據(jù)的3D繪制

Dimensions in mm

帕克高分辨率的 NX7 原子力顯微鏡由Park帕克原子力顯微鏡為您提供，如您想了解更多關(guān)于帕克高分辨率的 NX7 原子力顯微鏡 報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產(chǎn)品未在中華人民共和國(guó)食品藥品監(jiān)督管理部門申請(qǐng)醫(yī)療器械注冊(cè)和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關(guān)用途。