Park NX10技術參數

掃描器

Z掃描器

柔性引導高推動力掃描器

掃描范圍: 15 μm (可選30 μm)
高度信號噪聲等級: 30 pm
(RMS, 0.5 kHz帶寬)

XY掃描器

閉環控制的柔性引導XY掃描器

掃描范圍: 50 μm × 50 μm
(可選10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)

驅動臺

Z位移臺行程范圍 : 25 mm (Motorized)
聚焦樣品臺行程范圍 : 15 mm (Motorized)
XY位移臺行程范圍 : 20 mm x 20 mm (Motorized)

樣品架

樣品尺寸: 開放空間 up to 100 mm x 100 mm，厚度 up to 20 mm
樣品重量 : < 500 g

光學

10倍 (0.23 N.A.)超長工作距離鏡頭 (1μm分辨率)
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野 : 480 × 360 μm (帶10倍物鏡)
CCD : 100萬像素, 500萬像素 (可選)

軟件

SmartScan?

AFM系統控制和數據采集的專用軟件
智能模式的快速設置和簡易成像
手動模式的高級使用和更精密的掃描控制

XEI

AFM數據分析軟件

電子

集成功能

4通道數字鎖相放大器
彈性系數校準(熱方法，可選)
數據Q控制

連接外部信號

20個嵌入式輸入/輸出端口
5個TTL輸出 : EOF, EOL, EOP,調制和交流偏壓

AFM模式
(*可選項）

標準成像

真正非接觸式原子力顯微鏡
PinPoint? 原子力顯微鏡
接觸式原子力顯微鏡
橫向力顯微鏡 (LFM)
相位成像
輕敲式原子力顯微鏡

力測量

力-距離(F/d)光譜
力譜成像

介電/壓電性能

靜電力顯微鏡(EFM)
動態接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC)
壓電力顯微鏡(PFM)
高壓壓電力顯微鏡*

機械性能

力調制顯微鏡(FMM)
納米壓痕*
納米刻蝕*
高壓納米刻蝕*
納米操縱*

磁學特性*

磁力顯微鏡(MFM)
可調制磁力顯微鏡

電性能

導電原子力顯微鏡(C-AFM)*
IV譜線*
掃描開爾文探針顯微鏡(KPFM)
掃描電容顯微鏡(SCM)*
掃描電阻顯微鏡(SSRM)*
掃描隧道顯微鏡(STM)*
光電流測繪 (PCM)*

化學性能*

功能化探針的化學力顯微鏡
電化學顯微鏡(EC-AFM)

原子力顯微鏡選項

溫度控制

溫控臺 1
  -25 °C to +170 °C
溫控臺 2
  Ambient to +250 °C
溫控臺 3
  Ambient to +600 °C

液體池

通用液體池
有液體/氣體灌注的開放式或封閉式液體池
控溫范圍: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)
電化學池
開放式液體池

液下探針柄

專為在一般液體環境中成像而設計
對大多數包括酸在內的緩沖溶液具有抗腐蝕性
可在液體中進行接觸式和非接觸式原子力顯微鏡成像

磁場發生器

施加平行于樣品表面的外部磁場
可調磁場
Range : -300 ~ 300 gauss
由純鐵芯和兩個電磁線圈組成

Dimensions in mm

帕克 NX10 SICM 掃描離子電導顯微鏡 電生理學由Park帕克原子力顯微鏡為您提供，如您想了解更多關于帕克 NX10 SICM 掃描離子電導顯微鏡 電生理學 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。