AFM Solutions for General Research

Tall Sample 1.5 μm step height

• 掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Flat Sample Atomic steps of sapphire wafer

• 臺階高度0.3 nm，掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Hard Sample Tungsten film

• 掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Soft Sample Collagen fibril

• 掃描模式：非接觸模式，Z軸位置傳感器的形貌

Accurate AFM Measurement with Low Noise Z Detector

Park NX10原子力顯微鏡的低噪聲Z探測器

• NX平臺的核心先進技術

• 業(yè)界無可比擬的超低噪聲

• 默認的形貌信號

Z軸探測器是全新NX系列原子力顯微鏡的核心技術之一。它是Park獨創(chuàng)的新型應變傳感器。憑借著0.2埃的超低噪聲一躍成為行業(yè)內噪聲最低的Z軸探測器。超低噪聲讓Z軸探測器可作為默認的形貌信號，全新的NX系列原子力顯微鏡與前幾代的原子力顯微鏡的差異可輕易被觀察到。如果Z軸探測器的噪聲過高，用戶是無法觀察到藍寶石晶片的原子臺階的。Park NX系列原子力顯微鏡的Z軸探測器所發(fā)出的高度信號，其噪聲水平與Z軸電壓形貌相同。

Park NX Series

Park NX Z軸探測器的噪聲水平

NX10所探測的藍寶石晶片形貌

Park XE Series

aPark XE Z軸探測器的噪聲水平

aXE-100所探測的藍寶石晶片形貌a

Accurate AFM Scan by True Non-Contact? Mode

True Non-Contact? Mode

• 針尖磨損更低=高分率掃描更長久

• 無損式探針-樣品接觸=樣品受損最小化

• 可滿足各種條件下對各種樣品進行非接觸式掃描

Tapping Imaging

• 針尖磨損更快=模糊，低分辨率掃描

• 破壞性的探針-樣品接觸=樣品易受損

• 參數高依賴性

The Best User Convenience by Design

簡單的探針和樣品更換

獨有的設計能讓您輕易地用手從側面更換新的探針和樣品。借助安裝懸臂式探針夾頭中預先對齊的懸臂，無需再進行繁雜的激光校準工作。

閃電般快速的自動近針

自動的探針樣品進針功能能讓用戶無需進行干預操作。通過監(jiān)測懸臂接近表面的反應，Park NX10能夠在懸臂裝載后十秒內開始并自動快速完成探針樣品進針操作。高速Z軸掃描器的快速信息反饋和NX電子控制器的低噪聲信號處理使得無需用戶干預就能快速接觸樣品表面。

快速精準的SLD光校準

憑借我們先進的預校準懸臂架，懸臂在裝載時SLD光便已聚焦完畢。此外，作為行內唯一一家可以提供自上而下的同軸視角可以讓您輕松找到光點。由于SLD光垂直照在懸臂上，您可通過旋轉兩個定位按鈕直觀地在X軸Y軸移動光點。這樣您可以在激光準直頁面中輕易找到SLD光并將其定位在PSPD上。此時您只需要稍微調整到最大化信號，便可開始獲取數據。

Park NX10技術參數

掃描器

Z掃描器

柔性引導高推動力掃描器

掃描范圍: 15 μm (可選30 μm)
高度信號噪聲等級: 30 pm
(RMS, 0.5 kHz帶寬)

XY掃描器

閉環(huán)控制的柔性引導XY掃描器

掃描范圍: 50 μm × 50 μm
(可選10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm)

驅動臺

Z位移臺行程范圍 : 25 mm (Motorized)
聚焦樣品臺行程范圍 : 15 mm (Motorized)
XY位移臺行程范圍 : 20 mm x 20 mm (Motorized)

樣品架

樣品尺寸: 最大開放空間為100 mm x 100 mm，厚度最大值為20 mm
樣品重量 : < 500 g

光學

10倍 (0.23 N.A.)超長工作距離鏡頭 (1μm分辨率)
樣品表面和懸臂的直觀同軸影像
視野 : 480 × 360 μm (帶10倍物鏡)
CCD : 100萬像素, 500萬像素 (可選)

軟件

SmartScan?

AFM系統(tǒng)控制和數據采集的專用軟件
智能模式的快速設置和簡易成像
手動模式的高級使用和更精密的掃描控制

XEI

AFM數據分析軟件

電子

集成功能

4通道數字鎖相放大器
彈性系數校準(熱方法，可選)
數據Q控制

連接外部信號

20個嵌入式輸入/輸出端口
5個TTL輸出 : EOF, EOL, EOP,調制和交流偏壓

AFM模式
(*可選項）

標準成像

真正非接觸式原子力顯微鏡
PinPoint? 原子力顯微鏡
接觸式原子力顯微鏡
橫向力顯微鏡 (LFM)
相位成像
輕敲式原子力顯微鏡

力測量

力-距離(F/d)光譜
力譜成像

介電/壓電性能

靜電力顯微鏡(EFM)
動態(tài)接觸式靜電力顯微鏡(EFM-DC)
壓電力顯微鏡(PFM)
高壓壓電力顯微鏡*

機械性能

力調制顯微鏡(FMM)
納米壓痕*
納米刻蝕*
高壓納米刻蝕*
納米操縱*

磁學特性*

磁力顯微鏡(MFM)
可調制磁力顯微鏡

電性能

導電原子力顯微鏡(C-AFM)*
IV譜線*
掃描開爾文探針顯微鏡(KPFM)
掃描電容顯微鏡(SCM)*
掃描電阻顯微鏡(SSRM)*
掃描隧道顯微鏡(STM)*
光電流測繪 (PCM)*

化學性能*

功能化探針的化學力顯微鏡
電化學顯微鏡(EC-AFM)

原子力顯微鏡選項

溫度控制

溫控臺 1
  -25 °C to +170 °C
溫控臺 2
  Ambient to +250 °C
溫控臺 3
  Ambient to +600 °C

液體池

通用液體池
有液體/氣體灌注的開放式或封閉式液體池
控溫范圍: 0 °C to +110 °C (in air), 4 °C to +70 °C (with liquid)
電化學池
開放式液體池

液下探針柄

專為在一般液體環(huán)境中成像而設計
對大多數包括酸在內的緩沖溶液具有抗腐蝕性
可在液體中進行接觸式和非接觸式原子力顯微鏡成像

磁場發(fā)生器

施加平行于樣品表面的外部磁場
可調磁場
Range : -300 ~ 300 gauss
由純鐵芯和兩個電磁線圈組成

Dimensions in mm

帕克 NX10 原子力顯微鏡 化工研究由Park帕克原子力顯微鏡為您提供，如您想了解更多關于帕克 NX10 原子力顯微鏡 化工研究 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監(jiān)督管理部門申請醫(yī)療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。