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安捷倫科技（中國）有限公司
| 產地類別：進口 | 供應商性質：生產商 | 價格范圍：100萬-150萬 | 儀器種類：原子力顯微鏡 |
Park NX7 原子力顯微鏡 實惠智能 理想選擇 |
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靈活智能的研究級AFM，實惠來襲！
Park NX7 配有Park原子力顯微鏡前沿技術，其設計與新型顯微鏡一樣彰顯細節品質，可以有效助您取得精準的研究成果?，F在價格實惠，是您預算合理下的理想選擇。
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通過消除掃描器串擾進行準確的XY掃描
√ 獨立閉環XY和Z柔性掃描器
√ 正交XY掃描
√ 樣品表面形貌信息測量精準，無需軟件處理
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全面專業的原子力顯微鏡解決方案
√ 涵蓋多種掃描探針顯微鏡的掃描模式
√ 更智能的NX電子控制器默認啟用高級納米機械測量模式
√ 擁有業界前沿的兼容性和可升級性
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人性化設計的軟件和硬件功能
√ 方便樣品或換針的開放式使用
√ 預對準的探針夾設計，可輕易直觀的進行SLD光校準
√ Park SmartScanTM - 原子力顯微鏡操作軟件可以幫助初次使用用戶和專業用戶進行專業的納米級研究。
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無掃描器弓形彎曲的平直正交XY軸掃描
Park的串擾消除技術不僅改善了掃描器弓形彎曲的缺點，還能夠在不同掃描位置，掃描速率和掃描尺寸條件下進行平直正交XY軸掃描。即使再平坦的樣品也不會出現如光學平面,各種偏移掃描等背景曲率。因此Park能不懼艱難挑戰，為您在研究中提供高精度的納米測量。
無耦合關系的XY和Z掃描器 Park的核心技術在于專有的掃描器架構?；讵毩Y掃描器和Z掃描器設計的撓曲結構，能讓您輕松獲得高精度納米級分辨率數據。 |  |
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行業引領的低噪聲Z探測器
Park AFM 配備了低噪聲Z探測器，噪音水平低于0.02 nm,因而達到了樣品形貌成像精準，沒有邊沿過沖無需校準的高效率。Park NX系列不僅為您提供高精準的數據，更為您大大節省了時間成本。
 | 由低噪聲Z探測器測量準確的樣品形貌 √ 利用低噪聲Z探測器信號進行形貌成像 √ 有高寬帶，Z探測器低噪聲只有0.02 nm √ 邊緣位置無前沿或后沿過沖現象 √ 只需在原廠校準一次 樣品: 1.2 μm標準臺階高度 (9 μm x 1 μm, 2048 pixels x 128 lines) |
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True Non-Contact?模式可延長探針壽命、保護樣品和精準測量
True Non-Contact? 模式是Park原子力顯微鏡系統創新的掃描模式，通過在掃描過程中防止針尖和樣品損壞，從而產生高分辨率和準確的數據。
接觸模式下，針尖在掃描過程中持續接觸樣品；輕敲模式下，針尖周期性地接觸樣品；而在非接觸模式下針尖不會接觸樣品。因此，使用非接觸模式具有幾大關鍵優勢。由于針尖銳度得以保持，在整個成像過程中會以高分辨率進行掃描。非接觸模式下由于針尖和樣品表面不會直接接觸，從而避免損壞軟樣品。
更快速的Z軸伺服使得真正的非接觸式原子力顯微鏡有更精準的反饋 √ 減少針尖磨損 → 長時間高分辨率掃描 √ 無損式探針-樣品接觸 → 較大地減少樣品受損度 √ 可滿足各種條件下，對各種樣品都能夠進行非接觸式掃描
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此外，非接觸模式可以感知探針與樣品原子之間的作用力，甚至可以檢測到探針接近樣品時產生的橫向力。因此，在非接觸模式下使用的探針可以有效避免撞到樣品表面時突然出現的高層結構。而接觸模式和輕敲模式只能進行探針底端檢測，很容易受到這種撞擊傷害。
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專業的 AFM 解決方案
行業引領——支持多種SPM模式和選項
如今，研究人員需要在不同的測量條件和樣品環境下表征廣泛的物理特性。 Park Systems能為您提供多種 SPM 模式、全面的 AFM 選項以及業界前沿的選項兼容性和可升級性，支持高級樣品表征。
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Park NX7 支持多種 SPM 模式
形貌成像 非接觸模式 接觸模式 輕巧模式 介電/壓電特性 壓電力顯微鏡(PFM) 高壓PFM Piezoresponse Spectroscopy 磁學特性 磁力顯微鏡 (MFM) | 電學特性 導電原子力顯微鏡 (C-AFM) 電流-電壓分光鏡 開爾文探針力顯微鏡 (KPFM) 高壓KPFM 掃描電容顯微鏡 (SCM) 掃描擴展電阻顯微鏡 (SSRM) 掃描隧道顯微鏡(STM) 光電流映射 (PCM) 靜電力顯微鏡 (EFM) | 力學特性 力調制顯微鏡 (FMM) 納米壓痕 納米刻蝕 高壓納米刻蝕 納米操縱 橫向力顯微鏡 (LFM) 力距(F/d)光譜 力容積成像 化學特性 具有功能化探針的化學力顯微鏡 電化學顯微鏡 (EC-AFM) |
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Park NX7 參數
| Scanner | Z掃描器 柔性引導高推動力掃描器 Z掃描范圍: 15 μm (30 μm可選) | XY掃描器 閉環控制式單模塊柔性XY掃描器 掃描范圍: 50 μm × 50 μm (可選 10 μm × 10 μm 或 100 μm × 100 μm) |
| 位移臺 | Z位移臺 Z位移臺行程范圍: 26 mm | XY位移臺 XY位移臺行程范圍: 13 mm X 13 mm |
| 樣品架 | 樣品大小 : up to 50 mm 樣品厚度: up to 20 mm | |
| 軟件 | SmartScanTM AFM系統控制和數據采集軟件 智能模式的快速設置和簡易成像 手動模式的高級使用和更精密的掃描控制 | SmartAnalysisTM AFM數據分析軟件 獨立設計—可以安裝和分析AFM以外的數據 能夠生成采集數據的3D繪制 |
帕克 NX7 原子力顯微鏡由Park帕克原子力顯微鏡為您提供，如您想了解更多關于帕克 NX7 原子力顯微鏡 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
