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安捷倫科技（中國）有限公司
| 產地類別：進口 | 供應商性質：生產商 | 儀器種類：納米壓痕儀 |
| 價格范圍：150萬-200萬 | 位移分辨率：0.003 nm | 有效載荷分辨率：3 nN |
| 最大壓痕深度：100 um | 有效加載載荷范圍：100 mN |
表面參比系統上的真實力傳感器確保可直接測量微牛級的力
主動表面參比技術：獨特的專利設計（歐洲專利 1828744 和美國專利 7,685,868）
從低壓入位移（幾納米）到高壓入位移（高達 100 μm）
從低載荷 (10 μN) 到高載荷（高達 100 mN）
長期蠕變測試不需要進行熱漂移修正
未修正的熱漂移低至 10 fm/sec，消除了熱漂移影響
即使在高載荷下也保持高框架剛度 (>108 N/m)
獨特的無熱膨脹 Macor 材料
載荷和位移的全部反饋控制系統
采用“快速點陣”壓痕模式的快速測量點陣：每小時測量高達 600 次，符合 ISO14577 儀器化壓入測試 (IIT) 要求
全新“模板”模式讓您可以用導出的數據創建一個自定義模板，從而更靈活快速分析數據
多樣品夾具用于 6 個或更多樣品連夜進行一系列測試
高質量載荷-位移曲線，載荷 <0.1 mN
超靈敏表面探測包含剛度探測
測量凝膠和硬質材料
載荷分辨率為 0.003 μN
位移率分辨為 0.003 nm
多種測試模式：連續多周期 (CMC)、恒定應變速率、用戶自定義、高級點陣
動態力學分析 (DMA) 模式包含“正弦”模式
各種機械性能的不同分析：硬度、彈性模量、儲能和損耗模量、蠕變、應力 - 應變、赫茲應力分析
環境控制：真空、液體、溫度和相對濕度
| 壓入載荷 | |
|---|---|
| zei大壓入載荷 | 100 mN |
| 分辨率 | 3 nN |
| 壓入位移 | |
| zei大壓入位移 | 100 μm |
| 分辨率 | 0.003 nm |
| 載荷框架剛度 | > 107 N/m |
| 國際標準 | ISO 14577, ASTM E2546 |
安東帕UNHT3超納米壓痕儀由安東帕（上海）商貿有限公司為您提供，如您想了解更多關于安東帕UNHT3超納米壓痕儀 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。
注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
