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安捷倫科技（中國）有限公司
| 產地類別：進口 | 供應商性質：生產商 | 價格范圍：200萬-300萬 |
| 儀器種類：納米壓痕儀 | 位移分辨率：0.006 nm | 有效載荷分辨率：6 nN |
| 最大壓痕深度：100 um | 有效加載載荷范圍：100 mN |
高溫超納米壓痕測試儀 (UNHT3 HTV)
全球真正意義的商品化的高溫高真空超納米壓痕儀，主要測量小載荷下納米尺度機械性能的測試系統，溫度在 800 °C 以下的薄膜和涂層的硬度和彈性模量。專利 UNHT3 技術與獨特的加熱功能結合，可提供在任何溫度下的高穩定性測量解決方案。
主要特點 新一代的高溫納米壓痕測試儀
環境條件下最低熱漂移 (< 0.5 nm/min) 和整個溫度范圍內最低熱漂移 (< 3 nm/min)。
最高載荷框架剛度 (>>106 N/m) 和最低框架柔度 (<<0.1 nm/mN)：兩套獨立的位移和載荷傳感器與高精度電容傳感器結合，可選擇“控制位移”和“載荷控制”模式。
高真空系統具有 5 軸磁懸浮渦輪泵和緩沖系統，允許在測量期間關閉初級泵，使振動降至最低。
獨特的加熱控制系統（3 項專利待批），采用3 個紅外 (IR) 加熱器分別用于給壓痕針尖、參比針尖和樣品進行加熱，以及 4 個熱電偶用于將樣品表面溫度控制到 變化在0.1°C 內。
符合 ISO 14577 和 ASTM E2546 國際標準
| 載荷 | |
|---|---|
| zei大載荷 | 100 mN |
| 載荷分辨率 | 6 nN |
| 本底噪音 | 0.5 [rms] [μN]* |
| 位移 | |
| zei大位移 | 100 μm |
| 位移分辨率 | 0.003 nm |
| 本底噪音 | 0.15 [rms] [nm]* |
| 極限真空度 | 10? mBar |
| zei高溫度 | 800 °C |
*理想實驗室條件下規定的本底噪音值，并使用減震臺。
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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。
