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紫外成像原理

本專題涉及紫外成像原理的標準有47條。

國際標準分類中,紫外成像原理涉及到無損檢測、輸電網和配電網、計量學和測量綜合、光學和光學測量、集成電路、微電子學、光學設備。

在中國標準分類中,紫外成像原理涉及到金屬無損檢驗方法、電力綜合、基礎標準與通用方法、電站、電力系統運行檢修、水環境有毒害物質分析方法、、半導體集成電路、微電路綜合、光電子器件綜合、光學儀器綜合。


CN-QIYE,關于紫外成像原理的標準

國際標準化組織,關于紫外成像原理的標準

  • ISO 10880:2017 無損檢測. 紅外熱成像檢測. 通用原則
  • ISO 22290:2020 無損檢測. 紅外熱成像檢測. 熱彈性應力測量方法的一般原理
  • ISO 5666-2:1983 水質.無焰原子吸收光譜法測定水銀總含量.第2部分:紫外線輻射預處理法
  • ISO 15529:1999 光學和光學儀器 光的傳遞函數 成像系統調制傳遞函數的測量原理
  • ISO 15529:2007 光學和光子學.光學轉移函數.取樣成像系統的調制傳遞函數(MTF)的測量原理
  • ISO 15529:2010 光學和光子學.光學轉移函數.取樣成像系統的調制傳遞函數(MTF)的測量原理

英國標準學會,關于紫外成像原理的標準

  • BS ISO 10880:2017 無損試驗. 紅外熱成像檢測. 通用原則
  • BS ISO 22290:2020 無損檢測 紅外熱成像測試 熱彈性應力測量方法的一般原理
  • 20/30401630 DC BS ISO 22290 無損檢測 紅外熱成像測試 熱彈性應力測量方法 一般原則
  • BS ISO 15529:2010 光學和光學儀器.光學傳遞函數.樣品成像系統的調制傳遞函數(MTF)的測量原理

GSO,關于紫外成像原理的標準

SCC,關于紫外成像原理的標準

  • AWWA JAW72068 AWWA 雜志 紫外線處理對 DBP 形成的影響
  • AWWA WQTC71633 紫外線處理腺病毒造成的蛋白質損傷
  • DANSK DS/ISO 18916:2008 成像材料 經過處理的成像材料 外殼材料的照相活性測試
  • AWWA WQTC58960 使用紫外線作為成品水處理的消毒屏障
  • AWWA ACE99453 中壓紫外線和 UV/H2O2 處理對消毒副產物形成的影響
  • AWWA WQTC60774 臭氧和紫外線工藝生成 OH 自由基的比較效率:對污染物處理的影響
  • AWWA WQTC57018 使用紫外線/過氧化物氧化去除 MTBE:試點研究結果、設計考慮和處理成本
  • AWWA ACE56240 使用紫外線/過氧化物氧化去除 MTBE:試點研究結果、設計考慮和處理成本
  • BS 6068-2-2.5:1984 水質 物理、化學和生物化學方法 用無火焰原子吸收光譜法測定總汞:紫外輻射預處理法
  • BS ISO 15529:2007 光學和光子學 光學傳遞函數 采樣成像系統調制傳遞函數(MTF)的測量原理
  • BS ISO 15529:1999 光學和光學儀器 光學傳遞函數 采樣成像系統的模塊化傳遞函數(MTF)測量原理
  • DIN ISO 15529 E:2009 光學和光子學 光學傳遞函數 采樣成像系統的調制傳遞函數 (MTF) 測量原理 (ISO 15529:2007) 草案
  • AWWA WQTC69304 用于味道和氣味處理的紫外線高級氧化工藝:印第安納州 WTP 可吸收有機物形成潛力的評估

行業標準-電力,關于紫外成像原理的標準

  • DL/T 1779-2017 高壓電氣設備電暈放電檢測用紫外成像儀技術條件

國家質檢總局,關于紫外成像原理的標準

  • GB/T 37141.1-2022 高海拔地區電氣設備紫外線成像檢測導則 第1部分:變電站
  • GB/T 12843-1991 半導體集成電路 微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理
  • GB 12843-1991 半導體集成電路微處理器及外圍接口電路電參數測試方法的基本原理

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會,關于紫外成像原理的標準

  • GB/T 37141.2-2018 高海拔地區電氣設備紫外線成像檢測導則 第2部分:輸電線路
  • GB/T 41123.1-2021 無損檢測 工業射線計算機層析成像檢測 第1部分:原理、設備和樣品

韓國科技標準局,關于紫外成像原理的標準

  • KS M 9102-1996 水質 無焰原子吸收光譜法測定總汞(紫外輻照預處理后法)
  • KS M 9102-1996(2001) 水質.用無火焰原子吸收光譜法測定總汞(紫外線輻射預處理后的方法)
  • KS B ISO 15529-2011(2021) 光學和光子學.光學傳遞函數.取樣成像系統調制傳遞函數(MTF)的測量原理
  • KS B ISO 15529:2011 光學和光子學.光學轉移函數.取樣成像系統的調制傳遞函數(MTF)的測量原理
  • KS B ISO 15529-2011(2016) 光學和光子學 - 光學傳遞函數 - 采樣成像系統的調制傳遞函數(MTF)的測量原理

RU-GOST R,關于紫外成像原理的標準

  • GOST R 8.659-2009 納米成像技術的紫外輻射特性測量工具統一性的國家保障體系.鑒定程序

AT-ON,關于紫外成像原理的標準

行業標準-電子,關于紫外成像原理的標準

  • SJ/T 10802-1996 半導體集成接口電路外圍驅動器測試方法的基本原理

德國標準化學會,關于紫外成像原理的標準

  • DIN ISO 15529:2010-11 光學和光子學 光學傳遞函數 采樣成像系統的調制傳遞函數(MTF)測量原理
  • DIN ISO 15529:2010 光學和光子學.光學傳遞函數.采樣成像系統調制傳遞函數(MTF)的測量原理(ISO 15529-2010)

法國標準化協會,關于紫外成像原理的標準

  • NF S10-050*NF ISO 15529:2011 光學和光子學 光學轉移函數 取樣成像系統的調制傳遞函數(MIF)的測量原理
  • NF ISO 15529:2011 光學和光子學 - 光學傳遞函數 - 測量采樣成像系統的調制傳遞函數 (MTF) 的原理

KR-KS,關于紫外成像原理的標準

  • KS B ISO 15529-2023 光學和光子學.光學傳遞函數.采樣成像系統的調制傳遞函數(MTF)的測量原理




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