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GB/T 19267.6-2008
刑事技術(shù)微量物證的理化檢驗(yàn) 第6部分:掃描電子顯微鏡/X射線能譜法

Physical and chemical examination of trace evidence in forensic sciences.Part 6:Scanning electron microscope/X ray energy dispersive spectrometry

GBT19267.6-2008, GB19267.6-2008


標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
GB/T 19267.6-2008
別名
GBT19267.6-2008, GB19267.6-2008
發(fā)布
2008年
總頁(yè)數(shù)
9頁(yè)
發(fā)布單位
國(guó)家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB/T 19267.6-2008
 
 
引用標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 13966
被代替標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 19267.6-2003
適用范圍
GB/T 19267的本部分規(guī)定了掃描電子顯微鏡和與X射線能譜儀聯(lián)用的檢驗(yàn)方法。 本部分適用于刑事技術(shù)領(lǐng)域中微量物證的理化檢驗(yàn),其他領(lǐng)域亦可參照使用。

專題


GB/T 19267.6-2008相似標(biāo)準(zhǔn)


GB/T 19267.6-2008系列標(biāo)準(zhǔn)


GB/T 19267.6-2008 中可能用到的儀器設(shè)備

電鏡用X射線能譜儀EDS X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)譜儀XAFS 液質(zhì)聯(lián)用儀 FIB-SEM雙束聚焦掃描電鏡 X射線能譜儀(EDS) 二次離子質(zhì)譜/離子探針 體視顯微鏡/立體顯微鏡 掃描電鏡SEM ICP光譜/MP-AES/ICP-AES X射線散射儀 熱解吸儀,熱脫附儀 高光譜儀/高光譜成像儀 透射電鏡TEM 顯微圖像分析系統(tǒng) 掃描探針/原子力顯微鏡SPM/AFM 超分辨率顯微鏡 X射線顯微鏡 X熒光光譜/XRF(能量色散型X熒光光譜儀) 電鏡制樣設(shè)備 激光共聚焦顯微鏡 分子熒光光譜/熒光分光光度計(jì) 原位樣品桿/臺(tái) X熒光光譜/XRF(波長(zhǎng)色散型) X射線探測(cè)裝置 色譜檢測(cè)器 生物顯微鏡 電化學(xué)部件 MALDI質(zhì)譜 電鏡附件及外設(shè) 工業(yè)顯微鏡/工具顯微鏡 數(shù)碼顯微鏡 金屬多元素分析儀 光譜部件及外設(shè) 氣相色譜儀GC 陰極熒光(CL) 顯微操作 氣質(zhì)聯(lián)用儀 X射線實(shí)時(shí)成像檢測(cè)系統(tǒng) 激光光散射儀 比表面積儀/動(dòng)態(tài)法 Zeta電位儀/微電泳儀 其他試驗(yàn)機(jī) 金屬檢測(cè)機(jī) 切割機(jī) 離子濺射儀 儀器工作站及軟件 真空泵 電子束刻蝕 等離子體表面處理儀 組織處理儀 鍍膜機(jī) 醫(yī)用原子吸收/元素分析儀 活體成像 細(xì)胞成像/活細(xì)胞成像 微量分光光度計(jì) 高內(nèi)涵篩選/成像 電磁法儀器 其他包裝業(yè)專用 光量子計(jì)/光合有效輻射計(jì) 檢漏儀 粒子圖像測(cè)速儀(PIV)

誰(shuí)引用了GB/T 19267.6-2008 更多引用





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