T/JAR 008/1-2023
超快速冷熱沖擊試驗機技術(shù)條件
Specification for ultra-rapid thermal shock testing machine
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- T/JAR 008/1-2023
- 發(fā)布
- 2023年
- 發(fā)布單位
- 中國團體標(biāo)準(zhǔn)
- 當(dāng)前最新
- T/JAR 008/1-2023
- 適用范圍
- 超快速冷熱沖擊試驗機是晶體原件、半導(dǎo)體、芯片等元部件性能測試檢驗專用設(shè)備，該產(chǎn)品隨著國內(nèi)半導(dǎo)體、芯片市場發(fā)展需求增加，原來主要依靠進(jìn)口。經(jīng)過國內(nèi)研制開發(fā)，已滿足使用要求替代進(jìn)口，并節(jié)約成本，滿足國內(nèi)用戶需求、并部分出口，達(dá)到國際同類技術(shù)水平。
專題
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