GB/T 10592-2023 高低溫試驗箱技術條件

本文件規定了與高低溫試驗箱(以下簡稱“試驗箱”)相關的技術要求、使用和安裝條件、主要檢驗儀器與裝置、檢驗方法、檢驗規則、標志、使用說明書以及包裝、運輸、貯存等內容。 本文件適用于對產品、零部件、材料在研發、生產、檢驗等過程中進行高溫或低溫試驗,以及高低溫循環試驗、溫度沖擊試驗的試驗箱。類似的溫度試驗箱參照執行。

High and low temperature test chamber technical conditions

GB/T 42233-2022 快速檢測 術語與定義

本文件界定了與快速檢測相關的術語與定義。 本文件適用于快速檢測方法、快速檢測產品等快速檢測相關領域。

Rapid detection—Terms and definitions

GB/T 20733-2022 數碼照相機 術語

本文件界定了與數碼照相機的技術要求、試驗方法以及與數碼照相機的使用相關的術語和定義。 本文件適用于與數碼照相機相關的標準制定、文件編制、教材撰寫、書刊編輯和文獻翻譯等。

Digital camera—Vocabulary

GB/T 19903.13-2019 自動化系統與集成 物理設備控制 計算機數值控制器用的數據模型 第13部分：電火花線切割加工用工藝數據

Automation systems and integration—Physical device control—Data model for computerized numerical controllers—Part 13: Process data for wire electrical discharge machining (wire-EDM)

GB/T 24369.3-2017 金納米棒表征 第3部分：表面電荷密度測量方法

Characterization of gold nanorods—Part 3: Measurement method of surface charge density

GB/T 34059-2017 納米技術 納米生物效應代謝組學方法 核磁共振波譜法

Nanotechnology—Nanobiological effects of nanomaterials—NMR-based metabolomics

GB/T 24369.3-2017(英文版) 金納米棒的表征 第3條：表面電荷密度的測量方法

"Characterization of gold nanorods—Part 3: Measurement method of surface charge density"

GB/T 33714-2017 納米技術 納米顆粒尺寸測量 原子力顯微術

Nanotechnology—Test method for size of nanoparticles—Atomic force microscopy

GB/T 33243-2016 納米技術 多壁碳納米管表征

本標準規定了用于評價多壁碳納米管宏觀樣品基本特性和雜質組成的測試技術，并且側重于在工業領域可以實現的上述基本特性的測試技術。 本標準適用于多壁碳納米管材料研究、開發和商業化的材料表征。 本標準技術內容不包含樣品具體的制備和測試方法。

Nanotechnologies.Characterization of multiwall carbon nanotube(MWCNT)

GB/T 32868-2016 納米技術 單壁碳納米管的熱重表征方法

本標準規定了在空氣氣氛下使用TGA對含單壁碳納米管樣品進行表征的方法。 本標準適用于通過定量測試材料中非碳雜質(如金屬催化劑)含量進行單壁碳納米管樣品的純度評價，和對含單壁碳納米管樣品熱穩定性和均一性進行品質評價。 本標準不適用于確認單壁碳納米管的存在和核實金屬雜質組成。

Nanotechnologies.Characterization of single-wall carbon nanotubes using thermogravimetric analysis

GB/T 32671.1-2016 膠體體系 zeta電位測量方法 第1部分：電聲和電動現象

GB/T 32671的本部分規定了利用電學和聲學方法在分散體系、乳狀液、含有液體分散介質的多孔材料等非勻相體系中測定zeta電位的方法。 這種方法并不限定zeta電位值和分散相的質量分數，適用于稀釋和濃縮體系；顆粒尺寸和孔隙尺寸限制在微米量級或更小，而對顆粒和孔隙的幾何形狀不做限定。本部分不包括平面上的zeta電位測量方法。 液體分散介質可以是水相，也可以是具有任意的液體電導率、介電常數或化學成分的非水相；顆粒自身可以導電也可以不導電；雙電層可以分離也可以互相重疊，雙電層的厚度或其他性質均沒有限制。 本部分適用于電場中的線性效應，并假定表面電荷沿著界面均勻分布。 本部分不適用于與含有空間電荷分布的軟表面層相關的效應。

Colloidal systems—Methods for zeta potential determination—Part 1: Electroacoustic and electrokinetic phenomena

GB/T 32264-2015 氣相色譜-單四極質譜儀性能測定方法

本標準規定了氣相色譜-單四極質譜儀性能測定的方法。 本標準適用于氣相色譜-單四極質譜儀性能的測定。

Method of performance testing for gas chromatography-single quadrupole mass pectrometry

GB/T 32266-2015 原子熒光光譜儀性能測定方法

本標準規定了原子熒光光譜儀性能測定的方法。 本標準適用于原子熒光光譜儀性能的測定。

Method of performance testing for atomic fluorescence spectrometer

GB/T 32267-2015 分析儀器性能測定術語

本標準界定了分析儀器性能測定的相關術語和定義。 本標準適用于涉及電子光學儀器、質譜儀器、X射線儀器、光譜儀器、色譜儀器、波譜儀器、電化學儀器、光學顯微鏡及圖像分析儀器、熱分析儀器9大類分析儀器性能指標測定的各級標準、技術文件、書刊的編寫。

Terminology of performance testing for analytical instrument

GB/T 32263-2015 高純化合物 農殘分析用化合物的測定 氣相色譜-電子捕獲檢測器(ECD)法

本標準規定了用氣相色譜-電子捕獲檢測器(ECD)測定農殘分析用化合物的方法。 本標準適用于農藥殘留分析用高純溶劑中含鹵素等電負人性強的特性指標的測定。

Highly purified compound.Reagent for pesticide residue analysis.Method of the gas chromatography with electron capture detector(ECD)

GB/T 31229-2014 熱重法測定揮發速率的試驗方法

本標準規定了熱重法測定樣品揮發速率的方法。本標準適用于使用熱重分析儀測試25 ℃~500 ℃溫度區間,單一揮發組分的揮發速率。本標準適用于測試揮發速率大于5 μg/min的樣品。本標準的使用者有責任確定是否需重復測試以及重復測試的次數,從而達到使用要求。本標準不包括與其使用相關的所有安全問題。在使用本標準方法之前,使用者有責任建立適當的安全與健康規范,并確認規范的適用性。

Test method for volatility rate by thermogravimetry

GB/T 31231-2014 水中鋅、鉛同位素豐度比的測定 多接收電感耦合等離子體質譜法

本標準規定了多接收電感耦合等離子體質譜法分別測定水中鋅、鉛同位素豐度比的方法。本標準適用于經過化學提純后轉化為硝酸水溶液的鋅、鉛天然同位素豐度樣品的測定,樣品的檢測范圍為鋅含量5 ng/g~3 000 ng/g、鉛含量0.5 ng/g~500 ng/g。

Determination of zinc and lead isotopic ratios in aqueous solution.Multiple-collectors inductively coupled plasma mass spectrometry

GB/T 31129-2014 制造業信息化標準體系結構

本標準規定了基于多種技術和應用領域標準進行科學合理分類和管理的制造業信息化標準體系結構。本標準適用于制造業信息化公共服務平臺的開發和應用以及信息化系統集成,為各層次應用工程實施提供標準化支撐。

Manufacturing information standard architecture

GB/T 29858-2013 分子光譜多元校正定量分析通則

本標準規定了采用分子光譜多元校正定量測定樣品成(組)分濃度(含量)或樣品性質的指導原則。本標準適用于中紅外光譜(約4000 cm~400 cm)和近紅外光譜(約780 nm~2500 nm)范圍的分子光譜。

Standard guidelines for molecular spectroscopy multivariate calibration quantitative analysis

GB/T 27760-2011 利用Si（111）晶面原子臺階對原子力顯微鏡亞納米高度測量進行校準的方法

本標準規定了利用Si(111)唱面原子臺階高度樣品校準原子力顯微鏡=向標度的測量方法。 本標準適用于在大氣或真空環境下工作的原子力顯微鏡,并且其=向放大倍率達到最大量級,即>向位移在納米和亞納米范圍內,這是原子力顯微鏡用于檢測半導體表面,光學器件表面和其他高科技元件表面中經常用到的檢測范圍。 本標準并未指出所有可能的安全問題,在應用本標準之前,使用者有責任采取適當的安全和健康措施,并保證符合國家有關法規規定的條件。 注:本標準中以國際單位制規定的數值作為標準值,括號內插人的數值僅供參考。

Test method for calibrating the z-magnification of an atomic force microscope at subnanometer displacement levels using Si(111) monatomic steps