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最新掃描電鏡采購選型指南
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飛納電鏡最新選型
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關(guān)于 ?Phenom
飛納 (Phenom) 源自 FEI，誕生于荷蘭 “發(fā)明之城” 埃因霍溫，以?“任何人都可用的電鏡” 聞名于世，現(xiàn)已成為臺(tái)式掃描電鏡第一品牌。讓您的掃描電鏡測(cè)試變得簡(jiǎn)單高效是我們一直以來的目標(biāo)。
飛納目前在中國擁有 1000 多名用戶，包括數(shù)百家高校；中科院等各類研究院所；政府機(jī)構(gòu)；以及新能源、生命科學(xué)等企業(yè)單位。研究領(lǐng)域涉及金屬及合金，電池，地質(zhì)，考古，高分子，靜電紡絲，陶瓷，復(fù)合材料，生物醫(yī)學(xué)，微生物等。
制樣簡(jiǎn)單?無需噴金即可觀察不導(dǎo)電樣品
? 01
裝樣
非 Phenom XL 系列
Phenom XL 系列
?非 Phenom XL 系列
抽真空 15 秒
02??
載樣
Phenom XL 系列
抽真空 20 秒
? 03
成像僅三步即可獲得高質(zhì)量圖像
從光鏡導(dǎo)航快速切換至
?SEM 圖像
PHENOM
產(chǎn)品推薦
系列 1
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡
第二代場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡，臺(tái)式設(shè)計(jì)，完全防震，在臺(tái)式機(jī)身上獲得接近大型場(chǎng)發(fā)射的性能。優(yōu)秀的低電壓成像能力，可減輕電子束對(duì)樣品的損傷和穿透，最大程度還原樣品的真實(shí)形貌。延續(xù)電鏡能譜一體化設(shè)計(jì)，升級(jí)的快速面掃可以即時(shí)顯示所選元素的分布情況，實(shí)時(shí)能譜分析功能大幅提升了檢測(cè)效率。
產(chǎn)品特點(diǎn)
肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍
分辨率最高的臺(tái)式電鏡
卓越的低電壓成像
電鏡能譜一體化設(shè)計(jì)
操作簡(jiǎn)單
內(nèi)置磁屏蔽和減震系統(tǒng)，可放置于任意樓層
Phenom Pharos G2
放大倍數(shù)：2,000,000 X
分辨率：優(yōu)于 1.5 nm
Phenom Nano G2
放大倍數(shù)：1,000,000 X
分辨率：優(yōu)于 2.5 nm
左右滑動(dòng)查看更多
新品發(fā)布 Pharos STEM
2023 年飛納電鏡推出全球唯一臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡，在較低的加速電壓下，減少了電子束對(duì)樣品的損傷，顯著提高了圖像的襯度。在臺(tái)式掃描電鏡下即可快速獲得高分辨的 BF 像、DF 像、HAADF 像，且支持用戶自定義成像。Pharos STEM 樣品杯為材料領(lǐng)域的研究提供了高效、全面的表征方式。
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●?新品發(fā)布｜Pharos-STEM：全球唯一臺(tái)式場(chǎng)發(fā)射 SEM-STEM 電子顯微鏡
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系列 2
CeB6 燈絲掃描電鏡
全新一代 CeB6 晶體燈絲掃描電鏡，臺(tái)式設(shè)計(jì)，完全防震。操作便捷，適用不同經(jīng)驗(yàn)級(jí)別的用戶，培訓(xùn) 30 分鐘即可上手操作。支持拓展各種特色功能。
產(chǎn)品特點(diǎn)
高亮度、長(zhǎng)壽命 CeB6 燈絲
無需噴金
“全面屏”操作界面
Phenom XL G2
放大倍數(shù)：200,000 X
分辨率：優(yōu)于 8 nm
樣品室尺寸：100mm x 100mm
Phenom ProX G6
放大倍數(shù)：350,000 X
分辨率：優(yōu)于 6 nm
探測(cè)器：BSD，SED（可選），EDS
Phenom Pro
放大倍數(shù)：350,000 X
分辨率：優(yōu)于 6 nm
探測(cè)器：BSD，SED（可選）
Phenom Pure
放大倍數(shù)：175,000 X
分辨率：優(yōu)于 10 nm
探測(cè)器：BSD，SED（可選）
左右滑動(dòng)查看更多
系列 3
ParticleX 全自動(dòng)掃描電鏡
ParticleX 以掃描電鏡和能譜儀為基礎(chǔ)，結(jié)合自動(dòng)控制系統(tǒng)以及強(qiáng)大的數(shù)據(jù)庫系統(tǒng)，可以全自動(dòng)對(duì)雜質(zhì)顆粒進(jìn)行快速識(shí)別、分析和分類統(tǒng)計(jì)，為客戶的研發(fā)以及生產(chǎn)提供快速、準(zhǔn)確和可靠的定量數(shù)據(jù)支持。
產(chǎn)品特點(diǎn)
顆粒粒度分布
顆粒形貌分析
雜質(zhì)成分檢測(cè)
高分辨率成像
ParticleX Battery
全自動(dòng)鋰電清潔度分析系統(tǒng)
ParticleX Steel
全自動(dòng)鋼鐵夾雜物分析系統(tǒng)
ParticleX TC
全自動(dòng)汽車清潔度分析系統(tǒng)
ParticleX
全自動(dòng)顆粒分析系統(tǒng)
左右滑動(dòng)查看更多
系列 4
自動(dòng)化專用掃描電鏡
Phenom GSR?槍擊殘留物分析
在槍支犯罪事件中，槍擊殘留物（GSR）的分析發(fā)揮著重要的作用。GSR 分析技術(shù)首先基于掃描電子顯微鏡（SEM）的背散射成像，用來掃描樣品和發(fā)現(xiàn) “可疑” 的 GSR 顆粒。一旦發(fā)現(xiàn)可疑的顆粒，使用能譜（EDS）識(shí)別該顆粒的元素。最常見的搜索元素為 Pb，Sb 和 Ba。無鉛底火的檢測(cè)，例如 Ti 和 Zn 也可作為搜索條件進(jìn)行搜索。
Diatom AI 自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)（電鏡）
DiatomAI? 利用人工智能的技術(shù)，賦能法醫(yī)硅藻檢驗(yàn)系統(tǒng)，配合 DiatomScope? ，實(shí)現(xiàn)了掃描和檢測(cè)的全自動(dòng)化。它是目前市面上最可靠、最高效、自動(dòng)化程度最高的硅藻檢測(cè)解決方案，幫助法醫(yī)在檢測(cè)過程中實(shí)現(xiàn)硅藻的全自動(dòng)檢測(cè)，識(shí)別過程全程無需人工參與。大大縮短了檢測(cè)時(shí)間，提升工作效率。
