PXRD、WXRD、XRD的區(qū)別
不同的指示物。
1、小角度衍射：利用聚焦在電子顯微鏡直鏡中的電子束輻照樣品，在原子靜電場的作用下，電子將束散射。
2、x射線衍射（XRD）：通過對材料進(jìn)行x射線衍射，分析其衍射圖案，獲得材料的組成、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。
二、不同的特征
1、小角度衍射：在消除反射、折射和二次散射后，通過放大得到樣品的高度分散衍射。
2、XRD：用來測定晶體結(jié)構(gòu)。晶體結(jié)構(gòu)使入射的x射線光束在許多特定的方向上發(fā)生衍射。通過測量這些衍射光束的角度和強(qiáng)度，晶體學(xué)家可以產(chǎn)生晶體內(nèi)電子密度的三維圖像。從這個電子密度，晶體中的原子的平均位置，他們的化學(xué)鍵，其他信息可以確定。
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