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螢石的常規濕法化學分析存在操作復雜、分析時間長等問題。X射線熒光光譜法分析方法，制樣簡單，分析速度快。現代的X射線熒光光譜儀精度高，重復性好， 可以準確可靠地測量含量高達99%的CaF2。 波長色散型 X 射線熒光光譜儀（WDXRF） 有優異的輕元素分析性能，可以輕松分析超輕元素F。另外，X 射線熒光光譜儀的 高靈敏度，可以分析微量甚至痕量的元素， 如螢石中的S、P、K2O、Na2O，以及有害的重金屬元素。
