SKYSCAN 1272 CMOS - 高分辨率XRM

SKYSCAN 1272 CMOS 版建立在值得信賴的 SKYSCAN 1272 桌面 X 射線顯微鏡平臺上，并結合了最新的 X 射線技術，將 XRM 提升到一個新的水平。

最先進的 16 兆像素 CMOS X 射線探測器可提供具有卓越分辨率的高對比度圖像。增大的探測器視野和增強的 X 射線靈敏度可將掃描時間縮短兩倍。

SKYSCAN 1272 CMOS  特點

Genius模式

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SKYSCAN 1272 CMOS 憑借Genius模式可自動選擇參數。只需單擊一下，即可自動優化放大率、能量、過濾、曝光時間和背景校正。

而且，由于能讓樣品和大尺寸CMOS探測器盡可能地靠近光源，它能大幅地增加實測的信號強度。正是因為這個原因，SKYSCAN 1272 CMOS 的掃描速度比探測器位置固定的常規系統最多可快5倍。

SKYSCAN 1272 CMOS 特點

自動進樣器

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SKYSCAN 1272 CMOS 可以選擇配合一個有16個位置的外置自動進樣器，以增加進行質量控制和常規分析時的處理速度。

自動進樣器可以容納不同尺寸的樣品，樣品直徑最大可達25 mm。

可以隨時很方便地切換樣品，不會中斷正在進行的掃描過程。系統可以自動檢測新樣品，LED可以顯示每一次掃描的狀態：準備、掃描和完成。

SKYSCAN 1272 CMOS 特點

原位試驗臺

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布魯克的材料試驗臺可以進行最大4400 N的壓縮試驗和最大440 N的拉伸試驗。所有試驗臺都能通過系統的旋轉臺自動聯系到一起，而無需任何外接線纜。通過使用所提供的軟件，可以設置預定掃描試驗。

布魯克的加熱臺和冷卻臺可以達到最高+80oC或最低低于環境溫度低30oC的溫度。和其它的試驗臺一樣，加熱和冷卻臺也不需要任何額外的連接，系統可以自動地識別不同的試驗臺。通過使用加熱臺和冷卻臺，可在非環境條件下檢測樣品，從而評估溫度對樣品微觀結構的影響。

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SKYSCAN 1272 CMOS
無外部冷卻水或特殊電源，性能不受影響：為滿足當今的生態和經濟需求而設計

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SKYSCAN 1272 CMOS
智能的解決方案和設計，比如集成的隔振裝置，形成一個完美的整體

應用

重點應用

SKYSCAN 1272 CMOS

纖維和復合材料

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FFP2口罩的三維渲染，根據局部取向對纖維進行彩色編碼

通過將材料組合成復合材料，獲得的組件可以擁有更高的強度，同時大大減輕重量。而要想進一步優化組件性能，就必須確保組成成分的方向能被優化。最常用的組分之一是纖維，有混凝土中的鋼筋，電子元件中的玻璃纖維，還有航空材料中的碳納米管。XRM可用于檢測纖維和復合材料，而無需進行橫切，從而確保樣品狀態不會在制備樣品的過程中受到影響。

• 嵌入對象的方向

• 層厚、纖維尺寸和間隔的定量分析

• 采用原位樣品臺檢測溫度和物理性質

SKYSCAN 1272 CMOS

藥物

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一種口服藥物，以腸溶顆粒形式存在，像素大小為0.45μm。包衣由三層組成，外層用顏色編碼厚度。

新藥開發是個費時費錢的過程。，XRM可以在產品配方階段即時提供產品內部結構，加快新藥上市。

• 確定片劑的壓實密度

• 測量包衣厚度均勻性

• 評估API分布

• 檢測被壓實的片劑中由應力導致的微型裂隙

• 利用原位壓縮檢測力學性能

SKYSCAN 1272 CMOS

泡沫材料

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重建數據的多體積圖像和彩色編碼結構分離同時顯示了泡沫泡孔的直徑以及開孔泡沫鎳支柱的中空特征。像素大小1.0μm

泡沫材料在工業上有廣泛的應用。根據泡沫的材質和結構特性，可以用作隔熱或隔音材料，也可以用作保護或過濾裝置中的減震結構……

XRM可以無損地實現泡沫內部結構的三維可視化。

• 確定局部結構的厚度

• 確定結構間隔以實現空隙網絡的可視化

• 通過壓縮和拉伸臺進行原位力學試驗

• 確定開孔孔隙度和閉孔孔隙度

布魯克SkyScan 1272高分辨率X射線三維顯微成像系統（3D XRM） 測量包衣厚度均勻性由大昌華嘉科學儀器為您提供，如您想了解更多關于布魯克SkyScan 1272高分辨率X射線三維顯微成像系統（3D XRM） 測量包衣厚度均勻性 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。