是 WITec alpha 300 顯微鏡系列的擴展組件之一，基于時間相關單光子計數（TCSPC）技術來實現樣品熒光壽命測量。

StrobeLock 是 WITec alpha 300 顯微鏡系列的擴展組件之一，基于時間相關單光子計數（TCSPC）技術來實現樣品熒光壽命測量。在超快脈沖激發熒光后，系統利用單光子器快速采集時間分辨熒光光譜或熒光衰減曲線。結合掃描共聚焦光學顯微鏡，快速采集每個像素點的熒光強度衰減曲線，進而可以獲得所有位置的樣品發光的重要信息，即熒光弛豫壽命。熒光壽命圖像不僅可以直接反映樣品熒光行為的局域差異性，例如，提取染料的熒光壽命信息可以得到熒光壽命成像（FLIM），也可以與Raman，AFM 或者 SNOM 等數據相結合，更深入地挖掘樣品結構與性能的內在關系。

StrobeLock 的優勢

• 可以采用脈沖激光激發樣品測量熒光衰減，或者采用脈沖發生器激發樣品測量電致發光

• 可調節激光脈沖重復頻率（最大可達 100 MHz）

• 儀器響應函數 120 ps 以下

• 采用同一款 WITec 控制與分析軟件

• 用戶友好，多種關聯技術聯用，如拉曼、AFM和SNOM等

• 熒光和其他發光衰減過程的精確時間分辨測量

時間分辨發光顯微鏡 (TLM)

利用時間分辨發光顯微鏡，可以研究發光器件（例如 LEDs）的發光性質和空間差異性。在超快電脈沖發生器激發樣品的發光后，采用單光子計數器記錄其發光強度隨時間的變化。TLM 成像可以并可視化展示出所有點的發光響應及弛豫時間，可應用于 LEDs 的質量控制。

藍光發光二極管（LED）的時間分辨發光顯微成像 (TLM) 。
左圖：局域弛豫時間成像，標尺 7 μm.
右圖：器件發光響應時間的等高線圖，標尺 10 μm.

熒光壽命成像 (FLIM)

熒光壽命成像顯微鏡（FLIM）利用超快脈沖激光激發樣品熒光，通過掃描方式采集所有點的時間分辨熒光衰減曲線。FLIM 圖像不僅直觀呈現了樣品發光壽命長短，也展示樣品中熒光壽命的空間分布及微觀差異。與其他成像技術相結合，如Raman 成像或者 AFM 成像，更深入挖掘樣品結構與性能的內在關系。

N,N′‐bis(1‐ethylpropyl)‐3,4,9,10‐perylenebis(dicarboximide)（EPPTC）針狀晶體的熒光壽命成像。左圖：熒光總強度成像；標尺 5 μm. 右圖：FLIM成像；標尺 5 μm.
樣品由張新平教授（北京工業大學，信息光子技術研究所）提供

Witec StrobeLock TCSPC 時間相關單光子計數由牛津儀器科技（上海）有限公司為您提供，如您想了解更多關于Witec StrobeLock TCSPC 時間相關單光子計數 報價、型號、參數等信息，歡迎來電或留言咨詢。

注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。